发明名称 高反射率凹面锥形反射镜的面形检测方法
摘要 一种高反射率凹面锥形反射镜的面形检测方法,包括以下步骤:制作部分透光平板;在移相干涉仪输出的平行光束方向依次设置所述的部分透光平板和待测高反射率凹面锥形反射镜,所述的待测高反射率凹面锥形反射镜的锥面朝向移相干涉仪的出光方向;调整光路;利用移相干涉仪检测干涉条纹,得到所述的高反射率凹面锥形反射镜的面形信息。本发明具有操作简单,易于测量,对测量件无损伤等优点。
申请公布号 CN103075975A 申请公布日期 2013.05.01
申请号 CN201210573251.X 申请日期 2012.12.26
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 袁乔;曾爱军;张善华;黄惠杰
分类号 G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/24(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种高反射率凹面锥形反射镜的面形检测方法,特征在于该方法包括以下步骤:①制作一个部分透光平板(2):在部分透光平板(2)前表面的下半部分涂上黑漆,使得入射到其上的光束被吸收;在部分透光平板(2)后表面的下半部分镀反射膜;②在移相干涉仪(1)输出的平行光束方向依次设置所述的部分透光平板(2)和待测高反射率凹面锥形反射镜(3),所述的待测高反射率凹面锥形反射镜(3)的锥面朝向移相干涉仪(1)的出光方向;③调整光路:调整所述的部分透光平板(2)的前平面与所述的平行光束垂直,且保证所述部分透光平板(2)的中轴与所述的移相干涉仪(1)出射光束的中轴重合;调整所述的高反射率凹面锥形反射镜(3),使所述的高反射率凹面锥形反射镜(3)的中轴与所述的移相干涉仪(1)出射光束的中轴重合,所述的部分透光平板(2)与待测高反射率凹面锥形反射镜(3)之间的距离应满足以下关系: <mrow> <mi>L</mi> <mo>&GreaterEqual;</mo> <mi>d</mi> <mn>1</mn> <mo>+</mo> <mi>d</mi> <mn>2</mn> </mrow> <mrow> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>&Phi;</mi> <mn>2</mn> </mfrac> <mi>c</mi> <mi>tan</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mn>2</mn> <mi>&theta;</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>+</mo> <mfrac> <mi>&Phi;</mi> <mn>2</mn> </mfrac> <mi>tan</mi> <mi>&theta;</mi> </mrow> <mrow> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mi>&Phi;</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1</mn> <mo>+</mo> <msup> <mi>tan</mi> <mn>2</mn> </msup> <mi>&theta;</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mrow> <mn>4</mn> <mi>tan</mi> <mi>&theta;</mi> </mrow> </mfrac> </mrow>其中,Φ为入射到待测高反射率凹面锥形反射镜(3)上的光束口径,θ为所述待测高反射率凹面锥形反射镜(3)的锥角;④所述的移相干涉仪(1)出射的光束经所述的部分透光平板(2)形成平行的测量光束,经所述的部分透光平板(2)后表面返回的光束形成参考光束;所述的测量光束经所述的高反射率凹面锥形反射镜(3)反射后再经所述的部分透光平板(2)原路反射回移相干涉仪(1)中,该返回的测量光束与从部分透光平板(2)返回的参考光束在所述的移相干涉仪(1)产生干涉;⑤调整所述的部分透光平板(2)与待测高反射率凹面锥形反射镜(3)之间的距离获得完整清晰的干涉条纹,利用所述的移相干涉仪(1)检测干涉条纹,得到所述的高反射率凹面锥形反射镜(3)的面形信息。
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