利用改善的采样的微分相位对比成像

摘要

本发明涉及对象的微分相位对比成像。为了增加X射线成像系统（2）的空间分辨率，探测器像素元件（8）的大小可以被认为是限制因素。相应地，增加用于相位对比成像的设备（38）的分辨率，而无需进一步降低个体像素元件（8）的面积。相应地，提供了利用改善的采样的相位对比成像的设备（38），其包括X射线源（4）、第一格栅元件G1（24）、第二格栅G2（26）以及包括多个探测器像素元件（8）的X射线探测器元件（6），每个探测器像素元件（8）具有像素面积A。待成像的对象（14）能够被布置在X射线源（4）与X射线探测器元件（6）之间。X射线源（4）、第一格栅元件G1（24）、第二格栅元件G2（26）和X射线探测器（6）能操作地耦合以用于对象（14）的相位对比图像的采集。第一格栅元件G1（24）和第二格栅元件G2（26）中的至少一个包括具有第一格栅跨度p1的第一面积A1和具有与第一格栅跨度不同的第二格栅跨度p2的第二面积A2。

主权项

一种用于相位对比成像的格栅装置（40），包括：第一格栅元件G1（24）；第二格栅元件G2（26）；并且其中，所述第一格栅元件（24）和所述第二格栅元件（26）中的至少一个包括：具有第一格栅跨度p1、q1的第一面积A1，以及具有与所述第一格栅跨度p1、q1不同的第二格栅跨度p2、q2的第二面积A2。