发明名称 |
一种采用偏振光检测托卡马克聚变堆第一壁损伤的方法 |
摘要 |
一种采用偏振光检测托卡马克聚变堆第一壁损伤的方法。所述的检测系统由光学平台支架、偏振光源、偏振分析仪及检测探头、被检测的第一壁等组成。偏振光源发出的特定波长激光经第一壁表面反射后,由偏振分析仪及检测探头获取反射光圆偏振分量,可实现对第一壁表面材料变化的检测。与常用偏振光检测方法不同,该方法是在布儒斯特角附近,旋转入射光振动面,利用邦加球中反射光斯托克斯矢量轨迹,实现对第一壁反射光圆偏振分量的快速测量。本发明为托卡马克聚变堆第一壁表面损伤提供了一种可行的检测方法。 |
申请公布号 |
CN103076287A |
申请公布日期 |
2013.05.01 |
申请号 |
CN201310030203.0 |
申请日期 |
2013.01.25 |
申请人 |
中国人民解放军陆军军官学院 |
发明人 |
杨锦宏;储德林;杨溢;汪卫华;韩双喜;陶安;马书炳;陈宇;王平;麻晓敏;梅洛勤;邓海飞;王俊;潘保国;王保明;史博;单会会;张强华;王鹏 |
分类号 |
G01N21/21(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/21(2006.01)I |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
代理人 |
贾玉忠;卢纪 |
主权项 |
一种采用偏振光检测托卡马克聚变堆第一壁损伤的方法,其特征包含以下步骤:步骤1:设置线偏振光源,要求线偏振光源的光振动面能够作360度旋转调节;步骤2:确定托卡马克第一壁损伤位置,使从线偏振光源出射的光线与第一壁夹角为50°<θ<60°;步骤3:调整偏振分析仪探头的位置,通过光阑透镜组合确保反射光垂直入射到探头感光材料面上;步骤4:调节线偏振光源的振动面方向,使入射线偏振光振动面旋转360度;步骤5:记录偏振分析仪检测到的各偏振分量,绘出反射光的斯托克斯(stockes)矢量在邦加球中的轨迹图;步骤6:对比偏振分析仪检测到上述过程中反射光在邦加球的轨迹与事先标定的各种第一壁表面材料反射光在邦加球中轨迹,识别第一壁表面材料的变化情况;步骤7:如果偏振分析仪检测出的第一壁反射光在邦加球中轨迹接近赤道面,反射光的圆偏振分量难以检测,回到步骤2,变换入射角θ,重新检测第一壁的反射光的斯托克斯(stockes)矢量在邦加球面上的轨迹。 |
地址 |
230031 安徽省合肥市蜀山区黄山路451号 |