发明名称 |
非接触小角度自动检查装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种非接触小角度自动检查装置,包括水平基座,在水平基座上设有两个垂直于水平基座的轴线立柱,工作台的两侧分别设于两个轴线立柱上,工作台的上表面为放置面,在两个轴线立柱上设有光电感测元件,两个光电感测元件与分析处理装置电气连接,在水平基座与工作台之间设有电控倾斜角位台。本实用新型可以有效的提高检测精度,使用更方便。 |
申请公布号 |
CN202915893U |
申请公布日期 |
2013.05.01 |
申请号 |
CN201220636589.0 |
申请日期 |
2012.11.27 |
申请人 |
广州计量检测技术研究院 |
发明人 |
古耀达;周伦彬;郭彤;黄志斌;王海燕;蔡永洪;韦争亮;胡小唐;林建荣 |
分类号 |
G01B11/26(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
谢伟 |
主权项 |
一种非接触小角度自动检查装置,其特征在于,包括水平基座,在水平基座上设有两个垂直于水平基座的轴线立柱,工作台的两侧分别设于两个轴线立柱上,工作台的上表面为放置面,在两个轴线立柱上设有光电感测元件,两个光电感测元件与分析处理装置电气连接,在水平基座与工作台之间设有电控倾斜角位台。 |
地址 |
510000 广东省广州市萝岗区科学城尖塔山路19号 |