发明名称 一种薄膜抗激光损伤能力测量与评价装置
摘要 本实用新型提供了一种薄膜抗激光损伤能力测量与评价装置,其包括上位机(1)、脉宽监测单元(2)、脉冲激光器(3)、光束整形单元(4)、聚焦单元(5)、分光镜(6)、能量标定单元(7)、图像采集单元(8)和电控样品台(9);采用空间能量分布均匀的光束诱导薄膜损伤,利用脉宽监测单元(2)和能量标定单元(7)监测脉冲激光器(3)发出的激光脉冲宽度和脉冲能量,采用改变聚焦透镜与被测样品间相对距离来调节辐照在被测样品上光能量密度。该装置测量误差小,自动化程度高,使用快捷方便。
申请公布号 CN202916206U 申请公布日期 2013.05.01
申请号 CN201220631755.8 申请日期 2012.11.27
申请人 王菲 发明人 王菲
分类号 G01N21/84(2006.01)I 主分类号 G01N21/84(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种薄膜抗激光损伤能力测量与评价装置,其特征在于包括上位机(1)、脉宽监测单元(2)、脉冲激光器(3)、光束整形单元(4)、聚焦单元(5)、分光镜(6)、能量标定单元(7)、图像采集单元(8)和电控样品台(9);其中上位机(1)分别与脉宽监测单元(2)、脉冲激光器(3)、聚焦单元(5)、能量标定单元(7)、图像采集单元(8)和电控样品台(9)相连接,在上位机(1)的控制下,脉宽监测单元(2)监测脉冲激光器(3)发出激光脉冲宽度,该激光脉冲依次经过光束整形单元(4)和聚焦单元(5)后入射到分光镜(6)上,部分激光束被分光镜(6)反射后辐照到被测样品表面,另一部分激光束透过分光镜(6)被能量标定单元(7)接收,被测样品被安装在电控样品台(9)上,被测样品表面经过分光镜(6)后成像在图像采集单元(8)的探测面;所述的上位机(1)为工控计算机,其向脉冲激光器(3)发送开关指令,同时触发脉宽监测单元(2)、图像采集单元(7)和能量标定单元(8)进行数据采集,对采集的数据进行分析处理,数字输出激光脉冲宽度、激光脉冲能量、样品表面损伤面积、辐照能量密度和样品表面激光损伤阈值,通过控制电控样品台(9)在垂直于光束的截面内做二维运动来满足不同脉冲能量辐照被测样品不同位置的记录要求;所述的脉宽监测单元(2)由光电探测器和处理电路组成,置于脉冲激光器(3)高反射镜外侧并与激光束同光路;所述的脉冲激光器(3)为电光调Q脉冲激光器,发射波长为1064nm、532nm或355nm,最大重复频率为10Hz,脉冲宽度为10ns;所述的聚焦单元(5)由平凸透镜(10)、光学调整架(11)、电控位移台(12)和控制器(13)组成;所述的能量标定单元(7)由热释电探测器和处理电路组成;所述的图像采集单元(8)由成像光学系统(14)、图像传感器(15)和图像采集卡(16)组成;所述的电控样品台(9)为电控的XY二维运动台。
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