发明名称 | 一种用于测量汽化时间的系统 | ||
摘要 | 本发明公开了一种用于测量汽化时间的系统,包括依次设置的探测器、扩束装置、成像装置和图像处理装置,扩束装置和成像装置之间设置有激光加热装置和待测样品;扩束装置,用于对探测器发出的激光光束进行扩束处理;激光加热装置,用于发出强激光,通过该强激光对待测样品进行加热;成像装置,用于对待测样品的汽化产生区域进行实时成像,并记录加热过程中待测样品的汽化产生区域的图像;图像处理装置,用于根据成像装置记录的图像确定待测样品的汽化的时间。该方法通过光学的方式测量待测样品上方流畅的变化,并在成像装置上进行成像,再通过图像处理装置进行后期处理,可以得到待测样品的精确的汽化时间。 | ||
申请公布号 | CN103076332A | 申请公布日期 | 2013.05.01 |
申请号 | CN201310011637.6 | 申请日期 | 2013.01.11 |
申请人 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 发明人 | 王超;王文涛;李长桢;钟声远;唐晓军;张天华 |
分类号 | G01N21/84(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/84(2006.01)I |
代理机构 | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人 | 吴永亮 |
主权项 | 一种用于测量汽化时间的系统,其特征在于,包括依次设置的探测器、扩束装置、成像装置和图像处理装置,所述扩束装置和所述成像装置之间设置有激光加热装置和待测样品;所述探测器,用于持续向所述扩束装置发出激光光束;所述扩束装置,用于对所述探测器发出的激光光束进行扩束处理;所述激光加热装置,用于发出强激光,通过该强激光对所述待测样品进行加热;所述成像装置,用于对所述待测样品的汽化产生区域进行实时成像,并记录加热过程中所述待测样品的汽化产生区域的图像;所述图像处理装置,用于根据所述成像装置记录的图像确定所述待测样品的汽化的时间。 | ||
地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路4号 |