发明名称 | 相变存储器中的单元状态确定 | ||
摘要 | 本发明提供用于确定相变存储器单元的状态的方法和装置。对单元进行多个测量,测量依赖于单元的亚阈值电流比对电压特性。处理测量以获得依赖于电流比对电压特性的斜率的度量。然后根据不同于绝对单元电阻、基本上不受漂移影响的这一度量确定单元的状态。 | ||
申请公布号 | CN103081018A | 申请公布日期 | 2013.05.01 |
申请号 | CN201180042043.0 | 申请日期 | 2011.08.26 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | E·S·埃里弗塞里乌;A·潘塔齐;N·帕潘德雷乌;C·伯津迪斯;A·塞巴斯蒂安 |
分类号 | G11C13/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C13/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 酆迅;张宁 |
主权项 | 一种用于确定相变存储器单元的状态的方法,所述方法包括:进行依赖于所述单元的亚阈值电流比对电压特性的多个测量;处理所述测量以获得依赖于所述电流比对电压特性的斜率的度量;并且根据所述度量确定所述单元的状态。 | ||
地址 | 美国纽约阿芒克 |