| 发明名称 | 一种VXI总线测试控制系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种VXI总线测试控制系统，可实现对多台被测设备的测试和控制，其特征在于，包括：VXI总线机箱、测控计算机、VXI转接箱、测试发控台，测控计算机与VXI总线机箱相连，接收VXI总线机箱产生的测试信号并向VXI总线机箱发送被测设备的控制命令；VXI总线机箱通过VXI转接箱与多个测试发控台相连，向测试发控台发送被测设备的控制命令，并接收由测试发控台输出的被测设备测试信号；每个测试发控台均与一个被测设备相连。采用本实用新型可以同时对多个被测设备进行测试和控制，且节省硬件、节约空间。 | ||
| 申请公布号 | CN202916671U | 申请公布日期 | 2013.05.01 |
| 申请号 | CN201220564794.0 | 申请日期 | 2012.10.31 |
| 申请人 | 北京航天自动控制研究所;中国运载火箭技术研究院 | 发明人 | 贾龙;周建明;李刚;李焱焱;蔡鸿杰 |
| 分类号 | G05B19/418(2006.01)I | 主分类号 | G05B19/418(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人 | 安丽 |
| 主权项 | 一种VXI总线测试控制系统，可实现对多台被测设备的测试和控制，其特征在于，包括：VXI总线机箱、测控计算机、VXI转接箱、测试发控台，测控计算机与VXI总线机箱相连，接收VXI总线机箱产生的测试信号并向VXI总线机箱发送被测设备的控制命令；VXI总线机箱通过VXI转接箱与多个测试发控台相连，向测试发控台发送被测设备的控制命令，并接收由测试发控台输出的被测设备测试信号；每个测试发控台均与一个被测设备相连。 | ||
| 地址 | 100854 北京市142信箱402分箱 | ||