| 摘要 |
Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru wartosci wspólczynnika zalamania promieniowania elektromagnetycznego, majacy zastosowanie zwlaszcza w optyce i optoelektronice do niezbednej charakteryzacji materialów. Sposób polega na tym, ze przez plaskorównolegla próbke, w której jeden z glównych azymutów jest korzystnie równolegly do poziomu, zas drugi odpowiednio równolegly do pionu, przepuszcza sie prostopadle do jej powierzchni czolowej liniowo spolaryzowana wiazke promieniowania elektromagnetycznego, w której plaszczyzna polaryzacji tworzy z kierunkami glównych azymutów katy rózne odpowiednio od 0° lub 90° tak, zeby powstale w próbce dwie wiazki liniowo spolaryzowane - promien zwyczajny i nadzwyczajny, wzajemnie prostopadle i biegnace w tym samym kierunku, opuszczaly tylna powierzchnie próbki w tym samym punkcie, a nastepnie próbke obraca sie o kat ? wzgledem nieruchomej wiazki promieniowania albo wiazke promieniowania przepuszcza sie pod katem ? wzgledem nieruchomej próbki, przy czym kat ? jest wiekszy od 0°, a mniejszy od kata Brewstera, tak, zeby obydwie wiazki w próbce, przestrzennie od siebie odseparowane, a po zalamaniu na tylnej powierzchni próbki, równolegle wzgledem siebie i równolegle do wiazki padajacej, opuszczaly próbke kazda w innym punkcie jej tylnej powierzchni, róznym ponadto od punktu, w którym opuszczaly ta powierzchnie, gdy wiazka padajaca padala prostopadle na powierzchnie czolowa próbki, po czym wyznacza sie przesuniecie X wzgledem tego punktu dla kazdej z dwóch wiazek, czyli wzgledem polozenia pierwotnego dla ?=0°, zas z przesuniec X wyznacza sie wartosci wspólczynników zalamania.
|
