发明名称 |
Vorrichtung mit fokussiertem Ionenstrahl |
摘要 |
<p>Es wird eine Vorrichtung mit fokussiertem Ionenstrahl bereitgestellt, die eine Gasfeld-Ionenquelle umfasst, wobei die Gasfeld-Ionenquelle einschließt: einen Emitter (41) zum Emittieren eines Ionenstrahls (1); eine Ionenquellenkammer (40) zur Aufnahme des Emitters (41); eine Gasversorgungseinheit (46) zum Zuführen von Stickstoff in die Ionenquellenkammer (40); eine Absaugelektrode (49), an die eine Spannung zum Ionisieren des Stickstoffes und zum Absaugen von Stickstoffionen angelegt wird; und eine Temperaturregeleinrichtung (34) zum Kühlen des Emitters (41).</p> |
申请公布号 |
DE102012109961(A1) |
申请公布日期 |
2013.04.25 |
申请号 |
DE201210109961 |
申请日期 |
2012.10.18 |
申请人 |
SII NANO TECHNOLOGY INC. |
发明人 |
YASAKA, ANTO;ARAMAKI, FUMIO;SUGIYAMA, YASUHIKO;KOZAKAI, TOMOKAZU;MATSUDA, OSAMU |
分类号 |
H01J37/30;H01L21/82 |
主分类号 |
H01J37/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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