发明名称 Vorrichtung mit fokussiertem Ionenstrahl
摘要 <p>Es wird eine Vorrichtung mit fokussiertem Ionenstrahl bereitgestellt, die eine Gasfeld-Ionenquelle umfasst, wobei die Gasfeld-Ionenquelle einschließt: einen Emitter (41) zum Emittieren eines Ionenstrahls (1); eine Ionenquellenkammer (40) zur Aufnahme des Emitters (41); eine Gasversorgungseinheit (46) zum Zuführen von Stickstoff in die Ionenquellenkammer (40); eine Absaugelektrode (49), an die eine Spannung zum Ionisieren des Stickstoffes und zum Absaugen von Stickstoffionen angelegt wird; und eine Temperaturregeleinrichtung (34) zum Kühlen des Emitters (41).</p>
申请公布号 DE102012109961(A1) 申请公布日期 2013.04.25
申请号 DE201210109961 申请日期 2012.10.18
申请人 SII NANO TECHNOLOGY INC. 发明人 YASAKA, ANTO;ARAMAKI, FUMIO;SUGIYAMA, YASUHIKO;KOZAKAI, TOMOKAZU;MATSUDA, OSAMU
分类号 H01J37/30;H01L21/82 主分类号 H01J37/30
代理机构 代理人
主权项
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