发明名称 Verfahren zur Analyse einer Probe
摘要 <p>Verfahren zur Analyse einer Probe (11, 26), wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist:–Bereitstellen einer Probe (11), welche aus mindestens einem Probenmaterial zusammengesetzt ist;–Identifizieren eines zu analysierenden Teils (26) der Probe (11);–Herstellen einer Öffnung (25) in dem Probenmaterial mittels eines Teilchenstrahls, so dass die Öffnung (25) an den zu analysierenden Teil (26) der Probe (11) angrenzt,–Trennen des zu analysierenden Teils (26) der Probe (11) aus dem Probenmaterial mittels des Teilchenstrahls,–Anordnen des zu analysierenden Teils (26) der Probe (11) in der Öffnung (25); sowie–Untersuchen des zu analysierenden Teils (26) der Probe (11).</p>
申请公布号 DE102008042179(B4) 申请公布日期 2013.04.25
申请号 DE20081042179 申请日期 2008.09.17
申请人 CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH 发明人 ZEILE, ULRIKE;DOENITZ, DIETMAR, DR.
分类号 G01N1/44 主分类号 G01N1/44
代理机构 代理人
主权项
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