发明名称 一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的方法
摘要 本发明涉及一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的方法,待测的部分相干高斯光束具有高斯关联特性。将待测光束经薄透镜聚焦后产生球面波前相位,采用关联器系统测量得到光束的初始横向相干宽度<img file="201310010442X100004DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="16" he="24" />,采用光束分析仪分别测量得到光束的初始横向束腰宽度<img file="201310010442X100004DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="16" he="16" />和出射面上的横向束腰宽度<img file="201310010442X100004DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="16" he="16" />,经计算处理得到待测光束波前相位半径。本发明所提供测量的典型的部分相干光束,在自由光通讯、生物医疗、非线性介质、激光惯性约束核聚变等领域拥有广泛的应用前景,所提供的部分相干高斯光束波前相位半径的测量方法不需要使用价格昂贵的哈特曼波前探测传感器,测量条件简单,结果可靠,成本低廉。
申请公布号 CN103063162A 申请公布日期 2013.04.24
申请号 CN201310010442.X 申请日期 2013.01.11
申请人 苏州大学 发明人 朱时军;刘琳;陈亚红;蔡阳健
分类号 G01B11/255(2006.01)I;G01J11/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/255(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 陶海锋
主权项 1.一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的方法,待测的部分相干高斯光束具有高斯关联特性,其特征在于测量方法包括如下步骤:将待测光束经薄透镜聚焦后产生球面波前相位,采用关联器系统测量得到光束的初始横向相干宽度<img file="201310010442X100001DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="18" he="25" />,采用光束分析仪分别测量得到光束的初始横向束腰宽度<img file="284435DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="21" he="25" />和出射面上的横向束腰宽度<img file="201310010442X100001DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="22" he="16" />,按式<img file="513160DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="306" he="57" />得到光束的波前曲率半径<i>R</i>;其中,<i> k</i>为波数,A、B、C和D为象散光学系统传输矩阵; <i>R</i><sub><i>0</i></sub>为初始波前曲率半径,按式<img file="201310010442X100001DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="184" he="53" />得到, 其中,<img file="622060DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="118" he="54" />。
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