测试仪及其测试方法

摘要

本发明提供一种测试仪及其测试方法，该测试仪包括微控制器及向微控制器供电的电源电路，该微控制器设有存储器，存储有电压阈值信息以及第一时间长度信息，测试仪还设有与微控制器连接的第一测试针，并设有与微控制器连接的第二测试针以及第三测试针。该测试方法包括测试仪通过第一测试针向被测电容加载第一测试信号，通过第二测试针及第三测试测试针检测第二时间长度所对应时间的起止时刻下，被测电容两端电压的第一电压差值，并将第一电压差值传送至微控制器；微控制器判断第一电压差值是否大于存储器所存储的电压阈值，如是，判断被测电容漏电。本发明能有效检测被测芯片是否漏电，保证芯片生产的质量。

主权项

测试仪，包括微控制器，所述微控制器设有一存储器；向微控制器供电的电源电路；与微控制器一个IO接口连接的第一测试针；其特征在于：所述测试仪还设有与微控制器连接的第二测试针以及第三测试针；所述存储器中存储有电压阈值信息以及第一时间长度信息。