发明名称 |
X射线机曝光时间非介入测量的装置及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种X射线机曝光时间非介入测量的装置及方法,包括探测模块和处理模块,所述的探测模块包括闪烁体和光探测器,所述光探测器的探测端紧贴闪烁体,其输出通过一个带宽放大器连接到处理模块。本发明的有益效果是:克服介入测量方式可能出现的虚假“曝光时间”的瑕疵,通过短荧光衰减时间的闪烁体、光探测器、宽带放大器以及高速数据实时处理模块连续测量每个射线脉冲之间的时间间隔,达到测量核事件密度方法,减小因电子线路的响应时间对核事件密度变化的前沿和后沿的影响,从而减少对算出的曝光时间带来误差。 |
申请公布号 |
CN103068135A |
申请公布日期 |
2013.04.24 |
申请号 |
CN201310003388.6 |
申请日期 |
2013.01.06 |
申请人 |
刘志宏 |
发明人 |
刘志宏 |
分类号 |
H05G1/28(2006.01)I |
主分类号 |
H05G1/28(2006.01)I |
代理机构 |
成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 |
代理人 |
谢敏 |
主权项 |
X射线机曝光时间非介入测量装置,其特征在于,包括探测模块和处理模块,所述的探测模块包括闪烁体和光探测器,所述光探测器的探测端紧贴闪烁体,其输出通过一个带宽放大器连接到处理模块,所述的处理模块包括脉冲幅度鉴别单元和计时单元,所述的脉冲幅度鉴别单元的输入连接到带宽放大器的输出,其输出连接到计时单元。 |
地址 |
610000 四川省成都市武侯区望江路29号竹林村27栋1楼44号 |