发明名称 | 采用定点测量方式的电子测斜仪 | ||
摘要 | 本发明公开了一种采用定点测量方式的电子测斜仪。采用定点测量方式的电子测斜仪由定点探管、定点控制器、数据处理仪组成,通过操作定点控制器或定点测斜仪软件,在定点探管到达测量点时,确定测量点测量时间并读取定点探管有效测量数据,完成对测量点轨迹参数的测量。以往电子测斜仪采用定时测量方式,定时时间不容易控制,存在测量过程耗费时间长、成功率低等弊端。采用定点测量方式的电子测斜仪改变了以往电子测斜仪采用的定时测量方式,在到达测量点时即可完成测量,减少了测量时间,提高了测量成功率,降低了测量成本。 | ||
申请公布号 | CN103061747A | 申请公布日期 | 2013.04.24 |
申请号 | CN201210547791.0 | 申请日期 | 2012.12.17 |
申请人 | 北京合康科技发展有限责任公司 | 发明人 | 薛维;温榕;刘金全 |
分类号 | E21B47/022(2012.01)I | 主分类号 | E21B47/022(2012.01)I |
代理机构 | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人 | 李振文 |
主权项 | 一种采用定点测量方式的电子测斜仪,其特征在于:该电子测斜仪主要由定点探管、定点控制器及数据处理仪组成,所述定点探管包括高速单片机系统、大容量数据存储器、加速度传感器、磁传感器和专用通讯电缆;所述定点控制器包括控制系统、显示屏和便携式打印机;所述的数据处理仪由计算机、定点测斜仪软件和专用数据导出电缆组成。 | ||
地址 | 100043 北京市石景山区古城西路8号南院 |