| 发明名称 | 用源测量单元进行的低频阻抗测量 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用源测量单元进行的低频阻抗测量。一种用于测量具有小于1pF的电容的DUT的阻抗的方法包括向所述DUT施加电压或电流信号，所述电压或电流信号包括具有小于1kHz的非零频率的AC分量；响应于所述电压或电流信号来分别地监视通过所述DUT的电流或电压信号；同步地使所述电压信号和所述电流信号数字化；以及根据所述数字化电压和电流信号来计算所述阻抗。 | ||
| 申请公布号 | CN103063920A | 申请公布日期 | 2013.04.24 |
| 申请号 | CN201210300201.4 | 申请日期 | 2012.08.22 |
| 申请人 | 基思利仪器公司 | 发明人 | G.索博列夫斯基 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 马红梅;李浩 |
| 主权项 | 一种用于测量具有小于1 pF的电容的DUT的阻抗的方法，所述方法包括：向所述DUT施加电压信号，所述电压信号包括具有小于1 kHz的非零频率的AC分量；响应于所述电压信号来监视通过所述DUT的电流信号；同步地使所述电压信号和所述电流信号数字化；以及根据所述数字化电压和电流信号来计算所述阻抗。 | ||
| 地址 | 美国俄亥俄州 | ||