| 发明名称 | 玻璃基板的缺陷检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种玻璃基板的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包含步骤︰撷取一玻璃基板的一检测影像图，所述检测影像图显示所述玻璃基板上的多个缺陷；将所述检测影像图区分成一第一区域及一第二区域；仅检测判断位于所述检测影像图的第一区域中的缺陷是否分别需要进行修补；以及仅针对位于所述检测影像图的第一区域中且判断需要进行修补的缺陷进行修补动作。 | ||
| 申请公布号 | CN103064206A | 申请公布日期 | 2013.04.24 |
| 申请号 | CN201310006135.4 | 申请日期 | 2013.01.08 |
| 申请人 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 发明人 | 林勇佑 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G01N21/958(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人 | 刁文魁;唐秀萍 |
| 主权项 | 一种玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于：所述缺陷检测方法包含步骤：撷取一玻璃基板的一检测影像图，所述检测影像图显示所述玻璃基板上的多个缺陷；将所述检测影像图区分成一第一区域及一第二区域；仅检测判断位于所述检测影像图的第一区域中的缺陷是否分别需要进行修补；以及仅针对位于所述检测影像图的第一区域中且判断需要进行修补的缺陷进行修补动作。 | ||
| 地址 | 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号 | ||