粒径测量装置与粒径测量方法

摘要

本发明的目的在于，将检测器设置在光源照射出的光的光轴上，由其检测出粒子群中所含有的粒子形成的前向散射光，从而对粒子的粒径进行测量。本发明的目的在于，尽量使光源发出的光被粒子散射，减少直接入射到检测器中的光的光量，能够准确地测量出粒子的粒径。本发明的基本方案为：利用激光聚光光束所产生的辐射压将粒子群中含有的粒子导向光束的聚光位置，尽量减少不被粒子散射而发生直接透射光，从而测量最大前向散射强度，能够测量出粒子的粒径。即，本发明的粒径检测装置与粒径检测方法利用入射光形成的光辐射压强制性地使粒子移动到聚光位置，并检测出前向散射光。

主权项

一种粒径测量装置，其特征在于，包括：光源(10)，其射出光；流路(20)，其供包含粒子的粒子群通过；粒子引导机构(30)，其将所述流路(20)内的粒子引导至光的聚光位置；检测器(40)，其配置在所述光源(10)的照射光的光轴上，所述流路(20)内的粒子群中所包含的粒子对光进行散射而产生前向散射光，该检测器(40)检测出该前向散射光的强度；计算机构(50)，其根据所述检测器(40)检测出的前向散射光的强度来计算出所述粒子群中包含的粒子的粒径，所述粒子引导机构(30)为透镜(30)，该透镜(30)配置在所述光源(10)与所述流路(20)之间，使所述光源(10)的照射光聚光，聚光点形成在所述流路(20)内。