发明名称 高精度数模转换器测试系统
摘要 本发明公开了一种高精度数模转换器测试系统,其包括待测高精度数模转换器、测试用的低精度模数转换器以及提供抖动测试信号的信号发生单元,待测高精度数模转换器的输入端与DAC编码单元相连并从输出端不断重复产生输出一定的待测波形,信号发生单元的输入端与抖动信号编码单元相连并从输出端产生输出固定间隔的抖动信号,抖动信号与待测波形叠加后发送至低精度模数转换器,低精度模数转换器将所接收到叠加波形量化成不同的数字信号并输出,再将量化后的数字信号与待测高精度数模转换器的输入信号进行关联,进而计算待测高精度数模转换器的DNL和INL。本发明投入成本低,适应层面广,而且测试精度高,而有效解决上述测试精度、效率以及成本问题。
申请公布号 CN103067009A 申请公布日期 2013.04.24
申请号 CN201210575588.4 申请日期 2012.12.27
申请人 东南大学 发明人 黄成;刘昊;江川;乔磊;任亮;关晓龙;胡慧
分类号 H03M1/10(2006.01)I 主分类号 H03M1/10(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 范晴
主权项 一种高精度数模转换器测试系统,其特征在于,所述高精度DAC测试系统包括待测高精度数模转换器、测试用的低精度模数转换器以及提供抖动测试信号的信号发生单元,所述待测高精度数模转换器的输入端与DAC编码单元相连并从输出端不断重复产生输出一定的待测波形,所述信号发生单元的输入端与抖动信号编码单元相连并从输出端产生输出固定间隔的抖动信号,所述抖动信号的固定间隔时间与所述待测波形的周期相等,所述抖动信号与待测波形叠加后发送至低精度模数转换器,所述低精度模数转换器将所接收到叠加波形量化成不同的数字信号并输出,再将量化后的数字信号与所述待测高精度数模转换器的输入信号进行关联,进而计算待测高精度数模转换器的DNL和INL。
地址 215123 江苏省苏州市工业园区林泉街399号