发明名称 |
垂直式发光二极管的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种垂直式发光二极管的制造方法,包括:步骤A:提供一暂时基板;步骤B:依序披覆一缓冲层、一蚀刻选择层以及一发光单元;步骤C:在该发光单元上披覆一支持基板;步骤D:利用蚀刻方式移除该暂时基板的一第一区块,使该暂时基板剩下一第二区块,再利用干式蚀刻方式移除该第二区块;步骤E:利用干式蚀刻方式移除该缓冲层;步骤F:利用蚀刻方式移除该蚀刻选择层。通过蚀刻方式取代传统激光剥离方式移除该暂时基板,并且利用干式蚀刻移除该缓冲层以及增加设置该蚀刻选择层,使本发明的方法制造出的发光二极管的结构完整且均匀,发光效率高。 |
申请公布号 |
CN102044604B |
申请公布日期 |
2013.04.24 |
申请号 |
CN200910177994.3 |
申请日期 |
2009.10.23 |
申请人 |
晶发光电股份有限公司 |
发明人 |
罗明城;陈宏任;苏住裕 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;王璐 |
主权项 |
一种垂直式发光二极管的制造方法,包括:步骤A:提供一片暂时基板;步骤B:沿邻近至远离该暂时基板的方向依序披覆一层缓冲层、一层蚀刻选择层以及一个发光单元;步骤C:在该发光单元上披覆一片支持基板;其特征在于,该垂直式发光二极管的制造方法还包括:步骤D:利用蚀刻方式移除该暂时基板的一个第一区块,使该暂时基板剩下一个第二区块,再利用干式蚀刻方式移除该第二区块;步骤E:利用干式蚀刻方式移除该缓冲层;及步骤F:利用蚀刻方式移除该蚀刻选择层;其中,该蚀刻选择层的蚀刻速率为x,该缓冲层的蚀刻速率为y,且y≥1.5x。 |
地址 |
中国台湾台南县 |