Procedimiento y aparato para la determinación de defectos en la fabricación de sistemas magnéticos

摘要

Procedimiento para la determinación de defectos en un sistema magnético, cuyo método comprende lassiguientes etapas: - medición utilizando, como mínimo, un sensor (1) de campo magnético situado fuera de un sistema magnético, uncampo magnético del sistema magnético; - formular, como mínimo, una ecuación que asocia el campo magnético medido con un campo magnético hipotéticodel sistema magnético que tiene, como mínimo, un defecto hipotético introducido en el mismo; y - resolver dicha, como mínimo, una ecuación formulada.caracterizado porque el método comprende además, antes de la etapa de medición del campo magnético, lassiguientes etapas: - introducir el, como mínimo, un defecto hipotético, en el sistema magnético y definir, como mínimo, un parámetroque define el, como mínimo, un defecto hipotético; - simular el campo magnético hipotético del sistema magnético teniendo el, como mínimo, un defecto hipotéticointroducido en el mismo; - determinar puntos para la localización del, como mínimo, un sensor de campo magnético (1); y - determinar una serie de mediciones del campo magnético; en el que el campo magnético hipotético depende de uno o varios parámetros que definen el, como mínimo, undefecto hipotético, y en el que los valores de los parámetros son determinados resolviendo la, como mínimo, una ecuación formuladapara obtener los valores que determinan los defectos en el sistema magnético.