发明名称 一种粒径小于50微米粉体的取样方法
摘要 一种粒径小于50微米粉体的取样方法,确定的取样点包括第一系列取样点和第二系列取样点,并且第一系列取样点和第二系列取样点之间呈形交叉。所述第一系列取样点是储料容器口处的任意一点A与储料容器底部的点B之间的连线为对角线,并以A点、B点,以及AB连线上的1/4点、1/2点和3/4点为取料点。所述第二系列取样点是储料容器口处的任意一点C与储料容器底部的点D之间的连线为对角线,并以C点、D点,以及CD连线上的1/4点和3/4点为取料点。确定各取样点后,用取样勺依次进行取样。本发明中的取样点分布科学,在各点获得的试样具有代表性,克服了现有技术实施困难、存在安全隐患的不足。
申请公布号 CN103063468A 申请公布日期 2013.04.24
申请号 CN201210566687.6 申请日期 2012.12.24
申请人 西安航天化学动力厂 发明人 刘敏;杨树燕;肖兵;韩永莉;李艳娜;姚晓玲;王小艳;王展展
分类号 G01N1/04(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I 主分类号 G01N1/04(2006.01)I
代理机构 西北工业大学专利中心 61204 代理人 慕安荣
主权项 一种粒径小于50微米粉体的取样方法,其特征在于,取样时,首先确定各取样单元中的取样点;所述的取样点包括第一系列取样点和第二系列取样点,并且第一系列取样点和第二系列取样点之间呈十字形交叉;确定各取样点后,用不锈钢取样勺依次进行取样。
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