发明名称 |
可均匀打光的检测装置 |
摘要 |
一种可均匀打光的检测装置,包含一光罩,及分别安装于该光罩之一光源单元与一影像撷取器。光罩内部界定出一检测空间,并具有一界定出该检测空间之散射面。该光源单元可产生投射入该检测空间内之光线。该影像撷取器可撷取位在该检测空间内之待测物影像。透过设置于该机壳并可朝该检测空间投射平面光或环状光之光源单元,以及该中空机壳之散射面结构设计,可在该检测空间内构成一均匀光场环境,而可对移送入该检测空间内之待测物均匀打光,进而大幅提高取像检测准确度。 |
申请公布号 |
TWM451183 |
申请公布日期 |
2013.04.21 |
申请号 |
TW101224578 |
申请日期 |
2012.12.19 |
申请人 |
三星科技股份有限公司 台南市归仁区中山路3段355之6号 |
发明人 |
刘兼维 |
分类号 |
B21J5/00 |
主分类号 |
B21J5/00 |
代理机构 |
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代理人 |
高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
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地址 |
台南市归仁区中山路3段355之6号 |