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发明名称
半导体晶圆的研磨方法以及研磨垫整形治具
摘要
一种半导体晶圆的研磨方法,藉由使设置于压盘上的研磨垫16、17、与由载体保持的半导体晶圆相对移动,而利用研磨垫来对半导体晶圆的被研磨面进行研磨,且使利用整形前的研磨垫16、17来研磨时的半导体晶圆的被研磨面的形状相对于理想的形状而反转,来形成研磨垫整形治具21的整形面25,将该研磨垫整形治具的整形面的形状转印于研磨垫16、17的各自的垫面16A、17A上,并使用该垫面来对半导体晶圆的被研磨面进行研磨。
申请公布号
TWI394208
申请公布日期
2013.04.21
申请号
TW099113290
申请日期
2010.04.27
申请人
胜高股份有限公司 日本
发明人
高井宏
分类号
H01L21/304;B24B27/04
主分类号
H01L21/304
代理机构
代理人
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址
日本
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