发明名称 半导体晶圆的研磨方法以及研磨垫整形治具
摘要 一种半导体晶圆的研磨方法,藉由使设置于压盘上的研磨垫16、17、与由载体保持的半导体晶圆相对移动,而利用研磨垫来对半导体晶圆的被研磨面进行研磨,且使利用整形前的研磨垫16、17来研磨时的半导体晶圆的被研磨面的形状相对于理想的形状而反转,来形成研磨垫整形治具21的整形面25,将该研磨垫整形治具的整形面的形状转印于研磨垫16、17的各自的垫面16A、17A上,并使用该垫面来对半导体晶圆的被研磨面进行研磨。
申请公布号 TWI394208 申请公布日期 2013.04.21
申请号 TW099113290 申请日期 2010.04.27
申请人 胜高股份有限公司 日本 发明人 高井宏
分类号 H01L21/304;B24B27/04 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本