发明名称 半导体元件之制作方法
摘要 一种半导体元件之制作方法,包括:提供一基底,包括一阵列区和一周边区;形成一图形化之硬式罩幕层于基底上;以图形化之硬式罩幕层为罩幕,蚀刻基底,形成复数个沟槽于基底中;形成一旋转涂布介电层于基底上,并填入沟槽中;进行一第一研磨制程,移除超过图形化之硬式罩幕层表面之部份旋转涂布介电层;形成一图案化光阻,覆盖部份阵列区之旋转涂布介电层;进行一第一回蚀刻制程,蚀刻未被图案化光阻覆盖之周边区的旋转涂布介电层;移除图案化光阻;进行一第二回蚀刻制程,回蚀刻阵列区和周边区沟槽中之旋转涂布介电层;形成一高密度电浆介电层,于沟槽中之旋转涂布介电层上;及进行一第二研磨制程,移除超过图形化之硬式罩幕层表面之部份高密度电浆介电层,形成复数个浅沟槽隔离结构。
申请公布号 TWI394230 申请公布日期 2013.04.21
申请号 TW098125645 申请日期 2009.07.30
申请人 华邦电子股份有限公司 台中市大雅区科雅一路8号 发明人 倪志荣;余志杰
分类号 H01L21/76;H01L21/8247 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 台中市大雅区科雅一路8号