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Un sistema de escaneado, que comprende un dispositivo de escaneado (2) que comprende un primer marco (4) que soporta un primer deflector (6) para desviar la luz, teniendo el primer deflector (6) unaprimera superficie (20) y una segunda superficie (22), formando la primera superficie (20) y la segunda superficie(22) un primer ángulo de deflector (24), estando dispuesto el primer marco (4) para girar alrededor de un primereje (12), formando el primer eje (12) un primer ángulo de superficie (26) con la primera superficie (20), y un segundo marco (8) que soporta un segundo deflector (10) para desviar la luz, teniendo el segundo deflector(10) una tercera superficie (28) y una cuarta superficie (30), formando la tercera superficie (28) y la cuartasuperficie (30) un segundo ángulo del deflector (32), estando dispuesto el segundo marco (8) para girar alrededorde un segundo eje (14), formando el segundo eje (14) un ángulo de marco (34) con el primer eje (12), formandoun segundo ángulo de superficie (36) con la segunda superficie (22), y formando un tercer ángulo de superficie(37) con la tercera superficie (28), en el que el primer marco (4) está conectado de manera giratoria a una base (38) para su rotación alrededor delprimer eje (12) y estando dispuesto el segundo marco (8) para su rotación alrededor del primer eje (12),comprendiendo también el dispositivo de escaneado (2) una primera unidad (16) acoplada al primer marco (4) para controlar la rotación del primer marco (4) alrededordel primer eje (12), y una segunda unidad (18) acoplada al segundo marco (8) para controlar la rotación del segundo marco (8)alrededor del segundo eje (14), de tal manera que se proporciona control individual de la rotación del primermarco (4) alrededor del primer eje (12) y la rotación del segundo marco (8) alrededor del segundo eje (14),estando adaptado el dispositivo (2) para establecer un trayectoria óptica (60), comprendiendo la trayectoriaóptica (60) una primera parte (64) de la trayectoria óptica que se extiende desde la primera superficie (20) y alejándose delprimer deflector (6), formando la primera parte (64) de la trayectoria óptica un primer ángulo óptico (66) con laprimera superficie (20), una segunda parte (68) de la trayectoria óptica que se extiende entre la segunda superficie (22) y la tercerasuperficie (28), formando la segunda parte (68) de la trayectoria óptica un segundo ángulo óptico (70) con lasegunda superficie (22) y formando un tercer ángulo óptico (72) con la tercera superficie (28), respectivamente, yuna tercera parte (74) de la trayectoria óptica que se extiende desde la cuarta superficie (30) y alejándose delsegundo deflector (10), formando la tercera parte (74) de la trayectoria óptica un cuarto ángulo óptico (76) con lacuarta superficie (30), en donde la primera parte (64) de la trayectoria óptica es sustancialmente paralela con el primer eje (12), la segunda parte (68) de la trayectoria óptica es sustancialmente paralela con el segundo eje (14), el primer ángulo óptico (66) es sustancialmente igual al segundo ángulo óptico (70), y el cuarto ángulo óptico (76)es sustancialmente igual al tercer ángulo óptico (72), comprendiendo el sistema de escaneado al menos un dispositivo óptico (62), comprendiendo el al menos un dispositivo óptico (62) una fuente de luz adaptada para emitir un haz de luz haciala primera superficie (20), comprendiendo la fuente de luz un láser, comprendiendo el al menos un dispositivo óptico (62) un elemento de enfoque, siendo el haz de luz emitido desde el al menos un dispositivo óptico (62) un haz de láser enfocado finito, estando configurado el sistema de escaneado para dirigir o controlar el haz de láser enfocado finito.
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