| 摘要 |
L'invention concerne un dispositif de mesure d'une force atomique, comprenant une poutre (1) dont une première extrémité porte une micropointe (2) ; un détecteur (6) de la position de la micropointe ; des moyens (4) de déplacement de la deuxième extrémité de la poutre dans l'axe z de la micropointe ; une boucle d'asservissement basse fréquence (13) utilisant un signal (11) du détecteur et agissant sur les moyens de déplacement pour maintenir la micropointe fixe quand la force appliquée à la micropointe varie ; d'où il résulte que la variation de force, AF, est donnée par l'expression AF = k?z, où k désigne la raideur de la poutre et Az le déplacement des moyens de déplacement.
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