发明名称 一种体硅浮体晶体管存储器的刷新操作方法
摘要 本发明属于动态随机存储器技术领域,具体为一种体硅浮体晶体管存储器的刷新操作方法。本发明的刷新操作方法包括在体硅FBC的隐埋层上偏置电压脉冲以使隐埋层与浮体区之间的PN结弱导通步骤,使存储器由“强1”状态变为“弱1”状态,或者由“弱0”变为“强0”状态;该方法并不利用Charge Bumping(电荷泵)效应进行刷新操作,因此具有刷新操作的可靠性高的特点。同时,对于FBC存储器单元或存储器,刷新操作过程中不存在读取过程,进而可以对FBC存储器的存储阵列进行整体刷新操作。
申请公布号 CN102169714B 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201010113756.9 申请日期 2010.02.25
申请人 复旦大学 发明人 林殷茵;孟超;董存霖;程宽
分类号 G11C11/406(2006.01)I 主分类号 G11C11/406(2006.01)I
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人 陆飞;盛志范
主权项 一种体硅浮体晶体管存储器单元的刷新操作方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在浮体晶体管的栅极上偏置电压脉冲,以使存储第一数据状态的浮体晶体管导通,或者以使存储第二数据状态的浮体晶体管截止;在浮体晶体管的漏端/源端偏置高电平脉冲,以使所述导通的浮体晶体管的浮体区的存储电荷实现第一增量,或者以使所述截止的浮体晶体管的浮体区的存储电荷实现第二增量,所述第一增量大于第二增量2到3个数量级;在浮体晶体管的隐埋层上偏置电压脉冲以使隐埋层与浮体区之间的PN结反向截止;所述第一数据状态为1,第二数据状态为0;本步骤中所述在浮体晶体管的隐埋层上偏置电压脉冲,是指FBC存储单元的栅极电压偏置于数据“1”状态下的阈值电压和数据“0”状态下的阈值电压之间,FBC存储单元的漏端/源端电压偏置于高电平;(2)在浮体晶体管的隐埋层上偏置电压脉冲,以使隐埋层与浮体区之间的PN结弱导通;本步骤中所述在浮体晶体管的隐埋层上偏置电压脉冲,是指所有浮体区共用的N型隐埋层引出端施加一低于N型隐埋层与P型浮体区之间的PN结势垒的反向低电平,以及(3)重复所述第(1)步骤。
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