发明名称 粉体层体积测定装置
摘要 本发明提供一种粉体层体积测定装置,其具备摄像头(21)、使摄像头在垂直方向上移动的升降装置(23)、被配置在与摄像头相向的位置处的背光部件(30)、被配置在摄像头和背光部件之间的透明或半透明的圆筒形容器(104)、和实施动作控制的控制装置(40)。升降装置具备位移量测定装置(42),位移量测定装置(42)对摄像头从控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测。摄像头拍摄的图像由图像分析装置(41)进行分析,并测量圆筒形容器内的粉体层的粉体面位置,并根据初始设定位置和粉体面位置来计算粉体层的体积。
申请公布号 CN103047929A 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201210024357.4 申请日期 2012.01.31
申请人 细川密克朗集团股份有限公司 发明人 笹边修司;清水健司;藤见利幸;毛利顺一
分类号 G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 代理人 黄威;孙丽梅
主权项 一种粉体层体积测定装置,具备以下的结构:摄像头;背光部件,其被配置在与所述摄像头相向的位置处;圆筒形容器,其为透明或半透明的容器,且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间;升降装置,其使所述摄像头在垂直方向上移动;控制装置,其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制;位移量测定装置,其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测,并输出至所述控制装置;图像分析装置,其对所述摄像头拍摄的、所述容器内的粉体层的图像进行分析,并将分析结果输出至所述控制装置;运算单元,其根据所述摄像头从所述初始设定位置起的垂直方向位移量来计算粉体层的体积。
地址 日本大阪
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