发明名称 |
电子器件高度识别方法及系统 |
摘要 |
一种电子器件高度识别方法,包括:控制摄像设备拍摄位于摄像设备正下方的被测主板,得到一张平移前图像,并控制平移设备将被测主板平移一段距离,再次拍摄被测主板,得到一张平移后图像;分别取出平移前图像、平移后图像中包含电子器件宽度的区域图像,经处理分别找出各区域图像中表示电子器件长度的两条线段,计算各区域图像中两条线段之间的最小距离,得到各区域图像中电子器件的宽度;根据图像成像原理及三角形相似关系求得电子器件高度;当电子器件高度在预设高度范围内时,判定电子器件正确;当电子器件高度不在预设高度范围内时,判定电子器件错误。本发明还提供一种电子器件高度识别系统。利用本发明可以实现主板中电子器件的高度识别。 |
申请公布号 |
CN103047933A |
申请公布日期 |
2013.04.17 |
申请号 |
CN201110306377.6 |
申请日期 |
2011.10.11 |
申请人 |
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
吴文伍;王光建;刘梦洲 |
分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种电子器件高度识别方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:拍摄步骤:在已知摄像设备的焦距的情况下,控制摄像设备拍摄位于摄像设备正下方的被测主板,得到一张平移前图像,并控制平移设备将被测主板平移一段距离,再次控制摄像设备拍摄被测主板,得到一张平移后图像;处理步骤:分别取出平移前图像、平移后图像中包含需确定高度的电子器件宽度的区域图像,经处理分别找出各区域图像中表示所述电子器件长度的两条线段,并分别计算各区域图像中该两条线段之间的最小距离,从而得到各区域图像中的电子器件的宽度;高度计算步骤:根据图像成像原理及三角形相似关系求得所述电子器件高度;正确判定步骤:当电子器件高度在预设高度范围内时,判定电子器件正确,显示电子器件正确判定结果于显示设备上;错误判定步骤:当电子器件高度不在预设高度范围内时,判定电子器件错误,显示电子器件错误判定结果于显示设备上。 |
地址 |
518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |