发明名称 |
半导体结构的制造方法 |
摘要 |
一种半导体结构的制造方法,包括:提供衬底,所述衬底分为形成有熔丝结构的熔丝区和形成有焊垫的焊垫区,熔丝结构包括表层的第一抗刻蚀层,焊垫包括表层的第二抗刻蚀层;形成保护层;在保护层上形成光刻胶层并进行图形化,在光刻胶层中形成开口,所述开口暴露出部分焊垫位置的保护层、熔丝结构位置及其之外两侧部分的保护层;进行第一次刻蚀,直至熔丝区暴露出第一抗刻蚀层,同时焊垫区暴露出第二抗刻蚀层;进行第二次刻蚀,去除焊垫的表层的第二抗刻蚀层以及熔丝结构表层的第一抗刻蚀层。本发明采用单次光刻而后依次进行两次刻蚀的工艺,减少光刻次数。 |
申请公布号 |
CN102263011B |
申请公布日期 |
2013.04.17 |
申请号 |
CN201010188028.4 |
申请日期 |
2010.05.26 |
申请人 |
无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 |
发明人 |
牛建礼;赵金强;周国平;杨瑞 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/525(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种半导体结构的制造方法,包括:提供衬底,所述衬底分为熔丝区和焊垫区,所述熔丝区形成有熔丝结构,所述焊垫区形成有焊垫,所述熔丝结构与焊垫间隔,所述熔丝结构包括表层的第一抗刻蚀层,所述焊垫包括表层的第二抗刻蚀层;形成保护层,所述保护层覆盖焊垫、熔丝结构及衬底;在保护层上形成光刻胶层并进行图形化,在所述光刻胶层中形成开口,所述开口暴露出部分焊垫位置的保护层、所述开口还暴露出熔丝结构位置及其之外两侧部分的保护层;进行第一次刻蚀,直至熔丝区暴露出第一抗刻蚀层,同时焊垫区暴露出第二抗刻蚀层;进行第二次刻蚀,去除焊垫的表层的第二抗刻蚀层以及熔丝结构表层的第一抗刻蚀层。 |
地址 |
214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区汉江路5号 |