发明名称 半导体器件的保护环
摘要 本发明公开了一种半导体器件的保护环,所述保护环围绕着半导体器件的芯片形成一圈,将该芯片与切割道分开;其包括:保护环深沟槽,该保护环深沟槽穿过多晶-金属间介质膜和外延层,与高掺杂浓度的硅衬底直接相连;所述保护环深沟槽中依次形成有一层金属粘合层和一层金属阻挡层,且用填充金属填充满;所述多晶-金属间介质膜上端且位于所述保护环深沟槽上方设有第一金属层,该第一金属层与所述填充金属电连接。本发明能更好的起到保护和屏蔽作用,提高器件的可靠性。
申请公布号 CN103050424A 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201210293405.X 申请日期 2012.08.17
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 肖胜安;遇寒
分类号 H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 戴广志
主权项 一种半导体器件的保护环,其特征在于,所述保护环围绕着半导体器件的芯片形成一圈,将该芯片与切割道分开;其包括:保护环深沟槽,该保护环深沟槽穿过多晶‑金属间介质膜和外延层,与高掺杂浓度的硅衬底直接相连;所述保护环深沟槽中依次形成有一层金属粘合层和一层金属阻挡层,且用填充金属填充满;所述多晶‑金属间介质膜上端且位于所述保护环深沟槽上方设有第一金属层,该第一金属层与所述填充金属电连接。
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