发明名称 |
一种相位测量的校准方法、装置及测距设备 |
摘要 |
本发明适用于光电测距领域,提供了一种相位测量的校准方法、装置及测距设备,所述方法包括:第一光波发射装置发射第一光波至被测目标,所述第一光波被被测目标反射折回后被一接收装置接收,其中,所述光波作为外光路信号由第一高频振荡信号调制生成;第二光波发射装置发射第二光波至所述接收装置,其中,所述光波作为基底参考的内光路信号由第二高频振荡信号调制生成;所述接收装置将先后接收到的两路所述光波进行相位比较,输出消除基底的信号。本发明实现了相位补偿和校准的目的,避免了环境变化在电路中引入不确定的相位噪音,提高了激光测距的测量精度,减少了环境因素对测距误差的影响,减低了系统的成本,加强了激光测距在各行业的应用。 |
申请公布号 |
CN101581783B |
申请公布日期 |
2013.04.17 |
申请号 |
CN200810067250.1 |
申请日期 |
2008.05.16 |
申请人 |
深圳市迈测科技有限公司 |
发明人 |
杜鑫;伍昕;侴智 |
分类号 |
G01S7/497(2006.01)I;G01S17/32(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/497(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 44237 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
一种相位测量的校准方法,其特征在于,所述方法包括步骤:第一光波发射装置发射第一光波至被测目标,所述第一光波被被测目标反射折回后被一接收装置接收,其中,所述第一光波作为外光路信号由第一高频振荡信号调制生成;第二光波发射装置发射第二光波至所述接收装置,其中,所述第二光波作为基底参考的内光路信号由第二高频振荡信号调制生成;控制电路控制所述第一光波发射装置和所述第二光波发射装置的发射顺序,使所述内光路信号和外光路信号的切换时间为毫秒级;所述接收装置将先后接收到的两路所述第一光波和第二光波分别与一混频信号进行混频,并将混频后的两路所述第一光波和第二光波进行相位比较,输出消除基底的相位差信号;所述第一高频振荡信号和第二高频振荡信号为频率相同,且相位相同或具有固定相位差的高频振荡信号;所述两路第一光波和第二光波均为激光。 |
地址 |
518000 深圳市宝安桃花源创新科技园(铁岗水库旁)孵化大楼A栋315 |