发明名称 用于抛光多晶硅的化学机械抛光液
摘要 本发明公开了一种用于抛光多晶硅的化学机械抛光液,该抛光液包括研磨颗粒和水,其还包括一种或多种氧化剂。本发明的抛光液可以在碱性条件下显著改变多晶硅的去除速率,调节多晶硅与二氧化硅的选择比,并明显提高多晶硅的平坦化效率和抛光残留物的去除。
申请公布号 CN103045099A 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201210548151.1 申请日期 2007.09.14
申请人 安集微电子(上海)有限公司 发明人 荆建芬;张建;蔡鑫元
分类号 C09G1/02(2006.01)I 主分类号 C09G1/02(2006.01)I
代理机构 上海翰鸿律师事务所 31246 代理人 李佳铭
主权项 一种用于抛光多晶硅的化学机械抛光液,该抛光液包括研磨颗粒和水,其特征在于:还包括一种或多种氧化剂。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼602室