发明名称 |
一种PCIE显卡维修测试仪 |
摘要 |
本实用新型涉及一种PCIE显卡维修测试仪,它包括微处理器,采样电阻,AD转换器件,ATX电源接口,PCIE显卡插槽,显示屏和电压采样接口,其特征在于ATX电源接口通过两路采样电阻连接到PCIE显卡插槽,分别给PCIE显卡插槽提供12V和3.3V的电源;AD转换器件分别连接到采样电阻的两端,用于测量采样电阻两端的电压差;微处理器通过AD转换器件读取采样电阻两端的电压差,并根据采样电阻值的大小来计算出PCIE显卡上12V和3.3V电源的电流,并把计算结果输出到显示屏上;微处理器同时能够通过电压采样接口测量PCIE显卡上各电源的电压值,并把测量结果显示到显示屏上。本实用新型的有益效果在于以简便的方式显示出了PCIE显卡上12V和3.3V电源的电流值,以及PCIE显卡上各种电源的电压值。 |
申请公布号 |
CN202886460U |
申请公布日期 |
2013.04.17 |
申请号 |
CN201220149689.0 |
申请日期 |
2012.04.10 |
申请人 |
谢强 |
发明人 |
谢强 |
分类号 |
G01R19/25(2006.01)I;G01R13/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R19/25(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种PCIE显卡维修测试仪,它包括微处理器,采样电阻,AD转换器件,ATX电源接口,PCIE显卡插槽,显示屏和电压采样接口,其特征在于ATX电源接口通过两路采样电阻连接到PCIE显卡插槽,分别给PCIE显卡插槽提供12V和3.3V的电源;AD转换器件分别连接到采样电阻的两端,用于测量采样电阻两端的电压差;微处理器通过AD转换器件读取采样电阻两端的电压差,并根据采样电阻值的大小来计算出PCIE显卡上12V和3.3V电源的电流,并把计算结果输出到显示屏上;微处理器同时能够通过电压采样接口测量PCIE显卡上各种电源的电压值,并把测量结果显示到显示屏上。 |
地址 |
518040 广东省深圳市福田区竹子林三路竹盛花园16C栋1802 |