发明名称 刻蚀控制方法
摘要 本发明提供了一种刻蚀控制方法,其中,刻蚀工艺通过APC工艺进行控制,所述APC工艺使用神经网络模型,神经网络模型能够很好地逼近晶圆上各点的特征尺寸,通过精确的特征尺寸对刻蚀工艺进行调整,提高刻蚀工艺的可靠性,进一步的提高器件的可靠性。
申请公布号 CN103050421A 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201110315498.7 申请日期 2011.10.17
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 张海洋;王新鹏
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种刻蚀控制方法,其特征在于,包括:成膜工艺,在晶圆上形成制造器件结构的膜层;刻蚀工艺,刻蚀所述膜层以形成器件结构;其中,所述刻蚀工艺通过APC工艺进行控制,所述APC工艺使用神经网络模型。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号