发明名称 甚低功率的模拟补偿电路
摘要 本发明涉及一种补偿电路,用于对集成电路中的PVT变化提供补偿。通过使用低电压参考电流源,所述补偿电路从片上参考低电压源(VDD)直接生成在PVT变化中恒定的参考电流(Iref),基于电流传送器的感测电路从跨过单个二极管接法的晶体管(M10)而施加的低电压源(VDDE-VDD)生成随PVT变化可变的检测电流(Iz),低电压源(VDDE-VDD)与两个参考低电压源之间的电压差相对应。因此,在输出多个数字比特的电流模式模数转换器内对两路电流(Iref、Iz)进行比较。随后,这些数字比特可以用于补偿I/O缓冲电路中的PVT变化。
申请公布号 CN101485088B 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN200780025006.2 申请日期 2007.04.24
申请人 新思科技有限公司 发明人 安迪·尼古瓦;米歇尔·泽克里
分类号 H03K19/003(2006.01)I 主分类号 H03K19/003(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 陈源;张天舒
主权项 一种补偿电路,用于对集成电路内的工艺、电压和温度PVT变化中的至少一个提供补偿,所述补偿电路(100)至少包括:a)参考电路(200),用于生成在PVT变化过程中恒定的参考电流(Iref),所述参考电路(200)被配置为从第一电压源(VDD)直接生成所述参考电流(Iref),所述第一电压源(VDD)位于所述集成电路内部并被配置为提供低电压源,其中所述参考电流是基于具有正温度系数的电流和具有负温度系数的另一电流的和生成的,以便补偿温度变化;b)感测电路(300),包括输出端子(Z),所述感测电路(300)被配置为在所述输出端子(Z)提供随PVT变化可变的检测电流(IZ),并通过所述检测电流(IZ)来感测所述PVT变化。
地址 美国加利福尼亚州