发明名称 等离子处理装置和等离子处理方法
摘要 本发明提供一种等离子处理装置和等离子处理方法。该等离子装置和等离子方法能够抑制装置制造成本的增加,并且能够对等离子处理状态进行细微控制,从而能够提高等离子处理的面内均匀性。该等离子蚀刻装置具有:下部电极,兼用作载置基板的载置台;上部电极,与下部电极相对地配置;第1高频电源,用于对下部电极或上部电极施加等离子体产生用的第1频率的高频电力;第2高频电源,用于向下部电极施加频率比第1频率低的离子牵引用的第2频率的高频电力;偏压分布控制用电极,在与下部电极绝缘的状态下,设置在该下部电极上的至少周缘部;偏压分布控制用电源,用于对偏压分布控制用电极施加频率比第2频率低的第3频率的交流电压或矩形波电压。
申请公布号 CN101990353B 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201010236449.X 申请日期 2010.07.22
申请人 东京毅力科创株式会社 发明人 桧森慎司
分类号 H05H1/46(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I;H01L21/3065(2006.01)I 主分类号 H05H1/46(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;张会华
主权项 一种等离子处理装置,其特征在于,具有:处理室,其内部能够收容基板;下部电极,其配置在上述处理室内,兼用作载置上述基板的载置台;上部电极,其与上述下部电极相对地配置在上述处理室内;第1高频电源,其用于对上述下部电极或上述上部电极施加等离子体产生用的第1频率的高频电力;第2高频电源,其用于对上述下部电极施加频率比上述第1频率低的离子牵引用的第2频率的高频电力;偏压分布控制用电极,其在与上述下部电极电绝缘的状态下,设置在该下部电极上的至少周缘部;偏压分布控制用电源,其用于对上述偏压分布控制用电极施加频率比上述第2频率低的第3频率的交流电压或矩形波电压。
地址 日本东京都