发明名称 |
测试装置与测试方法 |
摘要 |
一种测试装置,其对被测试元件进行测试,此测试装置包括:接收部,自被测试元件接收封包;封包资料行记忆部,记忆多种封包的各个中所含的资料行、以及接收部所接收的封包中所含的接收资料;发送资料处理部,自封包资料行记忆部读出资料,以生成测试资料行,其将对被测试元件发送的封包的资料行中被预先指定的部分作为与接收资料相应的值;以及发送部,对被测试元件发送该发送资料处理部所生成的测试资料行。 |
申请公布号 |
TWI392889 |
申请公布日期 |
2013.04.11 |
申请号 |
TW098141765 |
申请日期 |
2009.12.07 |
申请人 |
爱德万测试股份有限公司 日本 |
发明人 |
石川慎一;碁石优;中山浩康;津藤胜 |
分类号 |
G01R31/3183;G01R31/319;H04L12/26 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
日本 |