发明名称 探测装置制造方法
摘要 一种探测装置制造方法,制造形成对被试验器件的电性连接的探测装置,该探测装置制造方法包括:通孔形成阶段,于试验用基板上形成贯穿试验用基板的表面及背面的通孔;表面侧连接垫形成阶段,于试验用基板的表面形成与通孔的表面侧端部连接的表面侧连接垫;以及背面侧导体图案形成阶段,藉由向试验用基板的背面喷出液滴状的导电材料并使该导电材料附着,而形成背面侧连接垫、以及将通孔的背面侧端部与背面侧连接垫加以电性连接的背面侧配线。
申请公布号 TWI393201 申请公布日期 2013.04.11
申请号 TW098118192 申请日期 2009.06.02
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 甲元芳雄;梅村芳春
分类号 H01L21/66;G01R31/26 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本