发明名称 用于阻挡层之化学机械抛光液
摘要 本发明揭露一种用于阻挡层之化学机械抛光液。该化学机械抛光液包含研磨颗粒、蚀刻抑制剂、络合剂、氧化剂、水及季铵盐型阳离子表面活性剂。该化学机械抛光液可改善抛光阻挡层之过程中出现的边缘过度蚀刻、突起及锯齿现象。此外,该化学机械抛光液不会影响对钽、二氧化矽及铜的抛光速率,且对各种材料有适当的抛光速率及抛光选择比。
申请公布号 TWI393181 申请公布日期 2013.04.11
申请号 TW097124880 申请日期 2008.07.02
申请人 安集微电子有限公司 开曼群岛 发明人 荆建芬;宋伟红
分类号 H01L21/304;C09K3/14;C09G1/02 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 陶霖 台北市文山区景兴路202巷8号5楼
主权项
地址 开曼群岛