发明名称 一种提升高频QFN器件焊装可靠性的方法
摘要 本发明涉及一种提升高频QFN器件焊装可靠性的方法,该方法包括如下步骤:(1)在衬板上均匀涂布熔点为214℃~220℃的高温焊料,并将印制板焊接在所述衬板上;(2)用漏板在印制板焊盘上涂布熔点为180~188℃的低温焊料,贴放QFN元器件并进行焊接,其中漏板的开口尺寸小于所述印制板焊盘的尺寸;(3)将衬板紧固在壳体内。本发明焊装方法在保证印制板组合件充分接地的基础上,避免器件二次受热,降低了焊接应力,并为印制板组合件提供良好的机械支撑,同时还可大幅度降低元器件在冷热交变情况下产生的热应力,提高了QFN器件的可靠性。
申请公布号 CN102083281B 申请公布日期 2013.04.10
申请号 CN201010527975.1 申请日期 2010.10.27
申请人 北京遥测技术研究所 发明人 何伟;孙奕庭;齐凤海
分类号 H05K3/34(2006.01)I 主分类号 H05K3/34(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 范晓毅
主权项 一种提升高频无引脚扁平封装器件焊装可靠性的方法,其特征在于包括如下步骤: (1)在衬板上均匀涂布高温焊料,并将印制板焊接在所述衬板上; (2)用漏板在印制板焊盘上涂布低温焊料,贴放无引脚扁平封装元器件并进行焊接,所述漏板的开口尺寸小于所述印制板焊盘的尺寸,并且所述高温焊料的熔点比所述低温焊料的熔点高30~40℃; (3)将衬板紧固在壳体内。
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