发明名称 用于提供在低温衬底上的薄膜的横向热处理方法
摘要 公开了一种用于以选择性方式热处理最小化吸收薄膜的方法。构图热接触薄膜的两个紧邻的吸收痕。使用脉冲辐射源加热两个吸收痕,并且通过在两个吸收痕之间的传导热处理薄膜。此方法可用于制造薄膜晶体管(TFT),在其中薄膜是半导体并且吸收器是TFT的源极和漏极。
申请公布号 CN103038389A 申请公布日期 2013.04.10
申请号 CN201180037944.0 申请日期 2011.06.02
申请人 NCC纳诺责任有限公司 发明人 K·A·施罗德;R·P·文茨
分类号 C23C16/56(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I 主分类号 C23C16/56(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 杨晓光;于静
主权项 一种用于热处理极薄膜的方法,所述方法包括:在极薄膜的顶上构图两个吸收痕,其中所述薄膜位于衬底的顶上;用至少一个电磁脉冲辐射所述两个吸收痕以加热所述两个吸收痕;以及允许来自所述两个吸收痕的热来热处理所述极薄膜。
地址 美国得克萨斯州