发明名称 | 用于提供在低温衬底上的薄膜的横向热处理方法 | ||
摘要 | 公开了一种用于以选择性方式热处理最小化吸收薄膜的方法。构图热接触薄膜的两个紧邻的吸收痕。使用脉冲辐射源加热两个吸收痕,并且通过在两个吸收痕之间的传导热处理薄膜。此方法可用于制造薄膜晶体管(TFT),在其中薄膜是半导体并且吸收器是TFT的源极和漏极。 | ||
申请公布号 | CN103038389A | 申请公布日期 | 2013.04.10 |
申请号 | CN201180037944.0 | 申请日期 | 2011.06.02 |
申请人 | NCC纳诺责任有限公司 | 发明人 | K·A·施罗德;R·P·文茨 |
分类号 | C23C16/56(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I | 主分类号 | C23C16/56(2006.01)I |
代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 杨晓光;于静 |
主权项 | 一种用于热处理极薄膜的方法,所述方法包括:在极薄膜的顶上构图两个吸收痕,其中所述薄膜位于衬底的顶上;用至少一个电磁脉冲辐射所述两个吸收痕以加热所述两个吸收痕;以及允许来自所述两个吸收痕的热来热处理所述极薄膜。 | ||
地址 | 美国得克萨斯州 |