发明名称 |
熔融金属成分检测装置 |
摘要 |
本实用新型涉及一种熔融金属成分检测装置,包括取样杆系统、脉冲激光器、光路系统、光谱探测装置、时序控制单元、光谱分析单元;取样杆系统包括取样杆和驱动取样杆运动的驱动装置;时序控制单元的时序信号依次触发驱动装置、脉冲激光器及光谱探测装置,驱动装置驱动取样杆插入熔融金属液内部进行取样后,脉冲激光器发射脉冲激光经光路系统聚焦至取样杆表面,产生的等离子体信号光由光路系统采集并导出至光谱探测装置,光谱探测装置获得光谱信息并将其发送至光谱分析单元,即可分析得出熔融金属的实时成分信息。本实用新型利用取样杆取样,使光学系统元件远离高温炉体,避免了光学元件的性能受到影响,同时确保光谱分析的稳定性,从而提高了成分检测的可靠性。 |
申请公布号 |
CN202869976U |
申请公布日期 |
2013.04.10 |
申请号 |
CN201220574666.4 |
申请日期 |
2012.11.02 |
申请人 |
中国科学技术大学 |
发明人 |
王秋平;潘从元;于云偲;杜学维;安宁 |
分类号 |
G01N21/63(2006.01)I;G01N1/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/63(2006.01)I |
代理机构 |
北京维澳专利代理有限公司 11252 |
代理人 |
马佑平 |
主权项 |
一种熔融金属成分检测装置,其特征在于包括:取样杆系统、脉冲激光器、光路系统、光谱探测装置、时序控制单元、光谱分析单元;取样杆系统包括取样杆和驱动取样杆运动的驱动装置;时序控制单元的时序信号依次触发驱动装置、脉冲激光器及光谱探测装置,驱动装置驱动取样杆插入熔融金属液内部进行取样后,脉冲激光器发射脉冲激光经光路系统聚焦至取样杆表面,产生的等离子体信号光由光路系统采集并导出至光谱探测装置,光谱探测装置获得光谱信息并将其发送至光谱分析单元。 |
地址 |
230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号 |