发明名称 溅射靶及其制造方法
摘要 本发明提供一种能通过溅射法形成良好地添加有Na的Cu-Ga膜的溅射靶及其制造方法。该溅射靶中,作为溅射靶的除氟(F)以外的金属成分,含有Ga:20~40at%、Na:0.05~1at%,余部具有由Cu和不可避免的杂质构成的成分组成,且Na以NaF化合物的状态被含有。该溅射靶的制造方法包括下述工序:形成由NaF粉末和Cu-Ga粉末的混合粉末,或者NaF粉末、Cu-Ga粉末和Cu粉末的混合粉末构成的成型体,然后在真空、惰性气体或还原气氛中烧结。
申请公布号 CN102395702B 申请公布日期 2013.04.10
申请号 CN201080017285.X 申请日期 2010.11.04
申请人 三菱综合材料株式会社 发明人 张守斌;白井孝典
分类号 C23C14/34(2006.01)I;B22F3/14(2006.01)I;C22C1/04(2006.01)I;C22C9/00(2006.01)I;H01L31/04(2006.01)I 主分类号 C23C14/34(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 卢曼;高旭轶
主权项 一种溅射靶,其特征在于,作为溅射靶的除氟(F)以外的金属成分,含有Ga: 20~40 at%、Na: 0.05~1 at%,余部具有由Cu和不可避免的杂质构成的成分组成,且Na以NaF化合物的状态被含有。2. 权利要求1所述的溅射靶,其特征在于,具有在靶材料中分散有NaF的组织,并且所述NaF的平均粒径在5μm以下。3. 权利要求1所述的溅射靶,其特征在于,靶材料中的Ga以Cu‑Ga二元合金的形态被含有。4. 制造权利要求1所述的溅射靶的方法,其特征在于,包括下述工序:形成由NaF粉末和Cu‑Ga粉末的混合粉末,或者NaF粉末、Cu‑Ga粉末和Cu粉末的混合粉末构成的成型体,然后在真空、惰性气体或还原气氛中烧结。5. 制造权利要求1所述的溅射靶的方法,其特征在于,包括下述工序:将NaF粉末和Cu‑Ga粉末的混合粉末,或者NaF粉末、Cu‑Ga粉末和Cu粉末的混合粉末在真空或惰性气体气氛中采用热压来烧结。6. 制造权利要求1所述的溅射靶的方法,其特征在于,包括下述工序:将NaF粉末和Cu‑Ga粉末的混合粉末,或者NaF粉末、Cu‑Ga粉末和Cu粉末的混合粉末通过热等静压来烧结。7. 权利要求4所述的溅射靶的制造方法,其特征在于,所述成型体形成后的烧结在700~950℃下进行。8. 权利要求5所述的溅射靶的制造方法,其特征在于,热压在500~800℃的温度下进行。9. 权利要求6所述的溅射靶的制造方法,其特征在于,所述热等静压在温度:500~800℃且压力:30~150MPa的条件下进行。
地址 日本东京都