发明名称 DDR2存储器的建模方法和边界扫描测试方法
摘要 本发明公开了一种DDR2存储器建模方法和一种DDR2存储器的边界扫描测试程序加载方法。在所述建模方法中,步骤101,通过预先设置的关键词对DDR2存储器的各个属性分别进行定义,以文本文件形式完成模型文件的建立;步骤102,将所述模型文件添加上预定后缀并保存,完成DDR2存储器建模。所述DDR2存储器的各个属性包括:DDR2的控制信号线定义,DDR2的动作时序函数和DDR2存储器信息定义;所述存储器信息包括DDR2存储器BANK数量、列地址数量、行地址数量。
申请公布号 CN103035300A 申请公布日期 2013.04.10
申请号 CN201210560824.5 申请日期 2012.12.20
申请人 北京航天测控技术有限公司 发明人 杜影;李洋;徐鹏程;王石记
分类号 G11C29/00(2006.01)I;G11C29/32(2006.01)I 主分类号 G11C29/00(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 李爱英;高燕燕
主权项 一种DDR2存储器建模方法,其特征在于,包括:步骤101,通过预先设置的关键词对DDR2存储器的各个属性分别进行定义,以文本文件形完成模型文件的建立;步骤102,将所述模型文件添加上预定后缀并保存,完成DDR2存储器建模;所述DDR2存储器的各个属性包括:DDR2的信号线定义,DDR2的动作时序函数和DDR2存储器信息定义;所述存储器信息包括DDR2存储器BANK数量、列地址数量、行地址数量。
地址 100041 北京市石景山区实兴东街3号
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