一种具有扫描链测试功能的芯片及测试方法

摘要

本发明公开了一种具有扫描链测试功能的芯片，包括多条扫描链、组合电路、测试模式及功能模块参数配置模块以及由多个触发器串接而成的参数锁存触发器链和参数设置控制模块，在参数设置控制模块的控制下将测试模式及功能模块参数控制字移入触发器链并锁存到各触发器的输出端为测试模式及功能模块参数配置模块提供控制值以配置测试模式及功能模块参数。本发明还公开了一种相应的测试方法，使用本发明的技术方案，能有效提高芯片组合电路测试覆盖率，减少芯片扫描测试时对引脚的占用。

主权项

一种具有扫描链测试功能的芯片，包括，测试模式及功能模块参数配置模块、组合电路和多条扫描链，其特征在于，还包括：参数锁存触发器链，由多个触发器串接而成，用于接收并锁存测试模式参数及功能模块配置参数控制值；参数设置控制模块，包括时钟输入端、测试控制端以及参数设置控制端；分别与芯片的扫描时钟输入引脚、测试控制引脚以及另一个引脚连接，根据所述测试控制端及参数设置控制端的信号控制所述参数锁存模块各触发器的时钟信号；所述参数锁存触发器链的各触发器的数据输出端分别连接到所述测试模式及功能模块参数配置模块的控制值输入端；各触发器的时钟输入端连接到所述参数设置控制模块；所述参数锁存触发器链第一个触发器的数据输入端连接到芯片的一个引脚。