| 主权项 |
强制均温和半导体制冷片调温的惯性仪表测试用温控仪，其特征在于：包括温度控制器(100)、控制和功率放大电路(200)、恒温容器(300)和温度传感器(400)，温度传感器(400)和被测对象(307)置于恒温容器(300)内部，温度传感器(400)实时采集被测对象(307)的温度送至温度控制器(100)，温度控制器(100)将被测对象(307)的实际温度与预设的温度值进行比较，产生对被测对象(307)进行加热或者制冷的控温信号，控制和功率放大电路(200)对所述的控温信号进行滤波放大后送至恒温容器(300)，对恒温容器(300)的温度进行调节，使得被测对象(307)的温度与预设的温度值相同；所述的恒温容器(300)包括恒温槽体(301)、恒温槽盖(302)、安装架(303)、均温体(304)、半导体制冷片(305)、定位支架(306)、档流片(308)、介质(317)；半导体制冷片(305)的热端粘贴在恒温槽体(301)和恒温槽盖(302)的外表面上，温度传感器(400)固定在安装架(303)上并位于恒温槽体(301)的中心，档流片(308)位于温度传感器(400)的周围并固定在安装架(303)上，被测对象(307)固定在安装架(303)上档流片(308)的外围；安装架(303)和均温体(304)固定于定位支架(306)上，定位支架(306)固定于恒温槽体(301)内腔的底部，恒温槽盖(302)扣接在恒温槽体(301)的上方并与恒温槽体(301)一起构成密封的腔体，介质(317)充满所述的腔体；安装在恒温槽盖(302)上的半导体制冷片(305)内通过的电流和安装在恒温槽体(301)底部的半导体制冷片(305)内通过的电流有差异，促成介质(317)在所述密封的腔体内上下流动；通过半导体制冷片(305)对控温信号进行响应，调节恒温槽体(301)内的温度，通过恒温槽体(301)和恒温槽盖(302)进行首次均温，再经均温体(304)进行二次均温，由介质(317)在恒温容器(300)内的流动对被测对象(307)再次进行均温。 |
