一种微波暗室性能测量系统

摘要

本发明提供微波暗室性能测量系统，包括测试台架和控制设备，测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量，采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据，实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率，测量准确度高。

主权项

一种微波暗室性能测量系统，其特征在于：它包括测试台架和控制设备，其中所述的测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；发射天线台架位于微波暗室的发射区域，接收天线台架位于微波暗室静区位置；所述的控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置；激光测距传感器设置在控制测试台架上用于获得发射天线和接收天线的具体位置信息，并传输给处理器；处理器通过步进电机驱动器驱动各步进电机、驱动信号源控制发射天线发射信号、通过信号接收装置接收接收天线的信号、并对发射和接收的数据进行分析处理。