电路测试接口及测试方法

摘要

本发明提供一种电路测试接口及测试方法，其中的电路测试接口包括测试电压输入焊垫、测试电压输出焊垫、多个输入缓冲器、多个开关元件以及扫描链电路。各输入缓冲器的第一输入端分别耦接至多个通硅晶穿孔的其中之一。各开关元件具有第一端以及第二端，各开关元件的第一端耦接这些输入缓冲器的其中之一的第一输入端以及对应的各通硅晶穿孔。各开关元件的第二端耦接至测试电压输入焊垫。扫描链电路耦接各输入缓冲器的输出端以及测试电压输出焊垫。

主权项

一种电路测试接口，包括：测试电压输入焊垫；测试电压输出焊垫；多个输入缓冲器，各该输入缓冲器具有第一输入端、第二输入端以及输出端，各该输入缓冲器的第一输入端分别耦接至多个通硅晶穿孔的其中之一；多个开关元件，各该开关元件具有第一端以及第二端，各该开关元件的第一端耦接该些输入缓冲器的其中之一的第一输入端以及对应的各该通硅晶穿孔，各该开关元件的第二端耦接至该测试电压输入焊垫；以及扫描链电路，耦接各该输入缓冲器的输出端以及该测试电压输出焊垫。